JEOL может предложить широкий спектр линеек сканирующих электронных микроскопов общего назначения W-SEM , в том числе настольных, которые позволяют работать любому, не обладающему специальными знаниями и методами, до высокотехнологичных моделей сканирующих электронных микроскопов с полевой эмиссией FE-SEM. Кроме того, собственными силами разрабатываются энергодисперсионные рентгеновские спектрометры ЭДС , используемые для элементного анализа.
Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)
Сканирующий микроскоп — это прибор, который используют в разных отраслях с целью изучения объектов под большим увеличением, где применяют энергетический электронный пучок. Сканирующий микроскоп стал известным уже с начала годов, когда началось изучение органических клеток и тканей. Основное отличие светового микроскопа от электронного заключается в оптической системе последнего, в ней применяются электромагнитные линзы и электростатические, которые направляют пучок электронного луча и фокусируют его на исследуемом объекте с целью получения увеличенного изображения и изучения его. Сканирующий электронный микроскоп : принцип работы основан на том, что из него исходит электронный пучок разной энергии. На исследуемом образце он фокусируется в виде пятна, размер которого не превышает 5нм. Благодаря этому пятну и происходит сканирование всей поверхности объекта.
Эффективным и информативным методом структурного анализа поверхности является сканирующая электронная микроскопия СЭМ. Этот метод, не являясь разрушающим методом, позволяет оперативно проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с разрешением до одного нанометра. Применение источника полевой эмиссий для формирования диагностического пучка, позволяет сканирующей электронной микроскопии визуализировать неоднородности рельефа в пределах одного монослоя, проводить анализ химического состава поверхности с помощью встроенного блока энерго-дисперсионного анализа, определять электрическую активность дефектов по методике наведенного тока и т.
EM — сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки полевой эмиссии, выпуск которого был начат в году. Электронный микроскоп KYKY получил ряд положительных отзывов на рынке, особенно от клиентов университетов и научных центров. Программа работы с микроскопом поддерживает многоязыковой интерфейс, доступен трекбол для проведения манипуляций с увеличением и фокусом прибора, навигацией. Слом полимера. Ускоряющее напряжение 1кВ, увеличение крат, SE детектор. Этот сайт использует cookies.
Похожие статьи
- Бесконтактное зажигание ваз 2107 своими руками - Бесконтактная (электронная) система зажигания ВАЗ -
- Сумка для книги своими руками электронной
- Что вредного может быть в зубной пасте - Лучшие вкусы для электронной сигареты: обзор самых вкусных
- Самодельное электронное зажигание схема - Как сделать самодельное электронное зажигание для автомоби