Электронный сканирующий микроскоп

Сканирующий электронный микроскоп KYKY EM6900 STD

JEOL может предложить широкий спектр линеек сканирующих электронных микроскопов общего назначения W-SEM , в том числе настольных, которые позволяют работать любому, не обладающему специальными знаниями и методами, до высокотехнологичных моделей сканирующих электронных микроскопов с полевой эмиссией FE-SEM. Кроме того, собственными силами разрабатываются энергодисперсионные рентгеновские спектрометры ЭДС , используемые для элементного анализа.

Полевые растровые микроскопы (РЭМ, FE-SEM)

Сканирующий микроскоп — это прибор, который используют в разных отраслях с целью изучения объектов под большим увеличением, где применяют энергетический электронный пучок. Сканирующий микроскоп стал известным уже с начала годов, когда началось изучение органических клеток и тканей. Основное отличие светового микроскопа от электронного заключается в оптической системе последнего, в ней применяются электромагнитные линзы и электростатические, которые направляют пучок электронного луча и фокусируют его на исследуемом объекте с целью получения увеличенного изображения и изучения его. Сканирующий электронный микроскоп : принцип работы основан на том, что из него исходит электронный пучок разной энергии. На исследуемом образце он фокусируется в виде пятна, размер которого не превышает 5нм. Благодаря этому пятну и происходит сканирование всей поверхности объекта.

Сканирующий растровый электронный микроскоп с катодом Шоттки JEOL серии JSM-7610F
Сканирующий электронный микроскоп S5500
Сканирующий напольный электронный микроскоп с катодом Шоттки Opto-Edu A63.7080
Сканирующий электронный микроскоп
Растровые электронные микроскопы (РЭМ)
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) PicoEye 200K
Volumescope 2 Thermo Scientific - сканирующий электронный микроскоп
Что такое СЭМ?
Сканирующие электронные микроскопы
Сканирующий настольный электронный микроскоп SEC SNE-4500 Plus
Сканирующий электронный микроскоп flexSEM 1000 Hitachi HT
Сканирующий электронный микроскоп KYKY EM8000F
Сканирующая электронная микроскопия
Сканирующий электронный микроскоп Quattro

Эффективным и информативным методом структурного анализа поверхности является сканирующая электронная микроскопия СЭМ. Этот метод, не являясь разрушающим методом, позволяет оперативно проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур с разрешением до одного нанометра. Применение источника полевой эмиссий для формирования диагностического пучка, позволяет сканирующей электронной микроскопии визуализировать неоднородности рельефа в пределах одного монослоя, проводить анализ химического состава поверхности с помощью встроенного блока энерго-дисперсионного анализа, определять электрическую активность дефектов по методике наведенного тока и т.

Купить сканирующий электронный микроскоп KYKY EM STD в Москве | «Dmicro»
Сканирующий растровый электронный микроскоп с катодом Шоттки JEOL серии JSMF | Minateh
Сканирующий электронный микроскоп JSM-IT InTouchScope™ | Продукты | ООО ДЖЕЛ.
ФИАН - Сканирующий электронный микроскоп JSMF (JEOL)
Сканирующий электронный микроскоп (SEM) PicoEye K
Сканирующий электронный микроскоп SEMLV
Сканирующая электронная микроскопия
« ZepTools » , Китай - компания-партнёр ВЕЛМАС и один из лидеров по производству оборудования НК.
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) | Продукты | ООО ДЖЕЛ.
Что такое СЭМ? - TESCAN
Сканирующий электронный микроскоп Hitachi SU

EM — сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки полевой эмиссии, выпуск которого был начат в году. Электронный микроскоп KYKY получил ряд положительных отзывов на рынке, особенно от клиентов университетов и научных центров. Программа работы с микроскопом поддерживает многоязыковой интерфейс, доступен трекбол для проведения манипуляций с увеличением и фокусом прибора, навигацией. Слом полимера. Ускоряющее напряжение 1кВ, увеличение крат, SE детектор. Этот сайт использует cookies.

« ZepTools » , Китай
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп JEOL JSM-7600F

Похожие статьи